小型半導體冷熱沖擊穩(wěn)定性試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具。

一、產(chǎn)品名稱 二箱式小型半導體冷熱沖擊穩(wěn)定性試驗箱（風冷式）

二、產(chǎn)品型號 2AP-CJ-50A

三、控制儀表 愛佩自主研發(fā)7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器(具有溫度報警顯示、實時溫度曲線顯示)

四、試樣限制 本試驗設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存生物試樣的試驗或儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。

五、二箱特點 兩箱式冷熱沖擊試驗箱在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移，采用吊籃移動式控制，轉(zhuǎn)換時間短符合國標要求，溫度恢復時間短，溫變速度快，設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，采用兩箱法，提高了工作室的溫度均勻性。

兩廂式冷熱沖擊試驗箱的結(jié)構(gòu)特點:

·采日制彩色觸控LCD中/英文微電腦溫度控制器。

·無紙式記錄功能，具實時顯示溫度沖擊試驗變化之曲線圖及記錄雙重功能。

·二箱移動式冷熱沖擊，安全的氣壓驅(qū)動測試物上下來回沖擊。

·冷熱沖擊機構(gòu)移動時間在10秒內(nèi)，可符合MIL，LEC，JIS等規(guī)范。

·冷熱沖擊溫度恢復時間在5分鐘內(nèi)，可符合相關(guān)試驗規(guī)范。

·采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計，降溫快、效率高。

六、容積、尺寸和重量

6.1. 內(nèi)容積 50L

6.2. 內(nèi)箱尺寸 350*400*350mm (W* H *D)

6.3.外型尺寸(約) 1350*1800*1850mm(W* H *D)

6.4. 重  量 約700㎏

七、性能指標

7.1. 測試環(huán)境條件 機器周圍環(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。

7.2. 滿足標準  .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高溫試驗方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗Test of temperature chantge

·GJB150.5-86溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB360.7-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·GJB367.2-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.測試室溫度范圍 -40℃～+150℃ (風冷式)

7.4. 高溫室

7.4.1.預熱溫度范圍 RT～+165℃

7.4.2.升溫時間 +50℃→+165℃ ≤40min （注：升溫時間為高溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能）

7.5. 低溫室

7.5.1. 預冷溫度范圍 RT～-50℃

7.5.2. 降溫時間 RT～-50℃ ≤60min

注：升溫時間為高溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能

7.6. 試驗室（試樣區(qū)）

7.6.1. 試驗方式 把產(chǎn)品擺放在吊籃測試區(qū)，二箱移動式冷熱沖擊，安全的氣壓驅(qū)動測試物上下來回沖擊。

7.6.2. 溫度波動度 ±0.5℃

7.6.3. 溫度偏差 ±2.0℃

7.6.5. 溫度恢復時間 ≤5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（吊籃移動時間：3秒以內(nèi)）