冷熱沖擊試驗(yàn)儀器常用于半導(dǎo)體行業(yè)及半導(dǎo)體產(chǎn)品、材料、配件做在瞬間下經(jīng)*高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化及物理傷害。

冷熱沖擊試驗(yàn)儀器標(biāo)準(zhǔn)型型號（另：可根據(jù)客戶要求定做）：

AP-TS--80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

AP-TS--150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

AP-TS--250 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

AP-TS-S-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

外箱尺寸：以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。

高溫槽預(yù)熱溫度范圍：+60℃～200℃；

升溫時(shí)間： +60℃～200℃≤30min；

低溫槽預(yù)冷溫度范圍： -75～-10℃；

降溫時(shí)間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時(shí)間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能﹚

試驗(yàn)方式： 氣動(dòng)風(fēng)門切換

溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

溫度偏差： ±2.0℃

溫度波動(dòng)度： ±0.5℃

溫度恢復(fù)時(shí)間： ≤5分鐘

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