水冷式高低溫沖擊試驗箱技術參數(shù)：
溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃
溫度偏差：±2℃
溫度波動度：±0.5℃。 
溫度恢復時間：≤5min。 
溫度恢復條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
溫度沖擊轉移方式：采用氣動驅動。   
高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。 
低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。
加熱系統(tǒng):鎳鉻合金不銹管加熱器
制冷系統(tǒng):采原裝歐美進口率壓縮機
循環(huán)系統(tǒng):采日制多翼離心式循環(huán)風扇
控制系統(tǒng):大屏原裝彩色液晶觸摸屏控制器
內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304 不銹鋼板
外箱材質(zhì):SUS#304紗面不銹鋼或冷扎鋼噴塑處理
保溫材質(zhì):硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡+玻璃棉
水冷式高低溫沖擊試驗箱本試驗箱適用于考核產(chǎn)品（整機）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數(shù)等因素。
滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件；GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分：試驗方法試驗A：低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分：試驗方法試驗B：高溫；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則；GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗。